在制定系統(tǒng)路線圖的同時，需要同時研究元器件的基本物理特性，并測量了單個超導(dǎo)傳輸量子比特T1弛豫時間長達0.5毫秒（500微秒，質(zhì)量因數(shù)為1500萬），研究結(jié)果表明這些器件不存在基本材料上的限制問題。

雖然“量子體積”可用于表征設(shè)備性能，但業(yè)界也可以使用其他指標，例如測量設(shè)備上的糾纏量子位的方式，從中提取有關(guān)系統(tǒng)性能的更多信息。

對于多量子位糾纏，一個簡單的衡量標準是n-qubit Greenberger-Horne-Zeilinger（GHZ）狀態(tài)的斷層攝影（可完全描述未知量子態(tài)的相同集合的過程），比如4量子位狀態(tài)。

首先準備GHZ狀態(tài)，并通過在不同基礎(chǔ)上的各個量子位的投影，重建我們創(chuàng)建的狀態(tài)。這里的量度指標是可實現(xiàn)的實驗狀態(tài)相對于目標狀態(tài)的保真度。

狀態(tài)層析成像對測量誤差很敏感，因此如果不具備去除這些誤差影響的技術(shù)，我們重建的4量子位GHZ狀態(tài)的保真度為0.66，可以繪制出如下的密度矩陣：

不過，可以通過額外校準測量來確定測量誤差的倒數(shù)，并對層析成像數(shù)據(jù)進行測量校正，從而降低這些誤差。同樣的數(shù)據(jù)經(jīng)過校正處理后，保真度提升至0.98。請注意，此值不包括誤差線，誤差線將包含由于狀態(tài)準備和測量誤差引起的統(tǒng)計噪音和系統(tǒng)噪音。

Qiskit Ignis是一種理解和降低量子電路和器件噪音的框架，也是IBM的開源量子開發(fā)套件Qiskit的一部分。Qiskit Ignis中包括測量誤差降噪。

降噪后的4比特GHZ狀態(tài)層析成像，保真度為0.98

我們還對IBM Q System One上的真正糾纏狀態(tài)進行了初步測量，共有多達18個量子比特糾纏。