EUV光刻膠的工作條件與傳統(tǒng)透射光刻膠完全不同。在EUV曝光中,波長為13.5納米的光經(jīng)多層反射鏡多次反射和聚焦后照射到光罩上,然后反射光被引導(dǎo)到晶圓上的光刻膠層。此外,EUV光源不僅發(fā)射13.5 nm波長的光,還發(fā)射其他光,例如深紫外(DUV)。如果深紫外光照射到光刻膠上,會對圖案形成產(chǎn)生嚴(yán)重影響。因此,必須在晶圓前放置一層稱為動態(tài)氣鎖(DGL)的薄膜來阻擋深紫外光。
ASML的EUV光刻膠薄膜路線圖顯示,大約在2018年,ASML開發(fā)了一種具有多晶硅芯的光刻膠薄膜,單次穿過薄膜的EUV透射率為82%,三次穿過薄膜的總EUV透射率降至57%。到2024年,EUV光的單次透射率將達到90%,三次透射率將提高到73%。這種薄膜材料很可能使用了碳納米管。
然而,在碳納米管薄膜能夠用于大規(guī)模生產(chǎn)之前,還有一些重大問題需要解決。由于波長為13.5 nm的極紫外光會被空氣中的氧氣吸收,EUV曝光設(shè)備內(nèi)部是真空環(huán)境。為了防止碳基污染物降低鏡面的反射率,曝光設(shè)備中引入了氫氣。氫自由基會“攻擊”碳納米管薄膜,導(dǎo)致其逐漸被蝕刻。結(jié)果,經(jīng)過約50小時的極紫外光照射后,碳納米管網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)顯著破壞,使其變得多孔。為防止氫自由基造成的劣化,研究人員設(shè)計了一種在碳納米管表面涂覆一層薄金屬膜的方法。實驗證實,即使經(jīng)過500小時的氫自由基測試,涂覆金屬膜的碳納米管薄膜也幾乎沒有受到損傷。然而,這種金屬涂層會導(dǎo)致透射率顯著降低。
三井化學(xué)宣布他們已經(jīng)研發(fā)碳納米管薄膜長達15年。2019年5月,三井化學(xué)與ASM公司簽署了EUV光刻膠業(yè)務(wù)的許可協(xié)議,獲得了生產(chǎn)和銷售權(quán)。隨后,該公司于2021年5月正式宣布開始商業(yè)化生產(chǎn)EUV光刻膠。隨著市場對更高透光率的需求,三井化學(xué)決定從多晶硅芯材轉(zhuǎn)向碳納米管材料。預(yù)計該公司將于2025年左右開始全面開發(fā)和生產(chǎn)碳納米管薄膜。根據(jù)該公司所示的路線圖,這些碳納米管薄膜的單次極紫外光照射的透射率為94%,三次照射的透射率約為83%。該薄膜的使用壽命為5,000至10,000張,且不含任何大于20 μm的異物。
隨著技術(shù)節(jié)點進一步微縮至1.4納米及1納米,臺積電面臨新的制造瓶頸。該公司決定放棄采購單價高達4億美元的ASML高數(shù)值孔徑EUV光刻機
2025-10-23 17:27:13曝臺積電放棄采購ASML頂級光刻機